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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

電容器高溫老化測試系統(tǒng)

符合標準:

MIL-STD-202E、GJB360等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的獨石電容器、膽電容器、電解電容器、云母電容器、薄膜電容器進行高溫壽命試驗或高溫老化篩選試驗。

技術特點:

系統(tǒng)監(jiān)控給電容器自動充放電。

實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術性能

表格 p33.png