Product Demonstration
符合標(biāo)準(zhǔn):
AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等標(biāo)準(zhǔn)。
適用范圍:
適用于各種封裝形式的射頻場(chǎng)效應(yīng)管、射頻功率器件進(jìn)行高溫反向試驗(yàn)。
技術(shù)特點(diǎn):
每顆器件的Vgs獨(dú)立控制。
實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)每個(gè)試驗(yàn)器件的Id、Ig。
控制上、下電時(shí)序。
全過(guò)程試驗(yàn)數(shù)據(jù)保存于硬盤(pán)中，可輸出Excel試驗(yàn)報(bào)表和繪制全過(guò)程漏電流IR變化曲線。
