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杭州高裕電子科技股份有限公司

產品展示

Product Demonstration

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高溫高濕反偏老化測試系統(tǒng)(單管、H3TRB)

符合標準:

JEDEC、 AEC-Q101等標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的二極管、三極管、場效應管、可控硅、單管IGBT等器件在高溫高濕條件下進行反向偏壓試驗。

技術特點:

實時監(jiān)測每個試驗器件的漏電流。

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中,可輸出Excel試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線。


技術性能

表格 p23.png